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ホーム / 商品案内 / 粒度分布測定装置(環境計測モニタリング機器) / レーザー回折・散乱法 粒度分布測定装置LS 13 320 XR

レーザー回折・散乱法 粒度分布測定装置LS 13 320 XR

レーザー回折・散乱法 粒度分布測定装置LS 13 320 XR イメージ

LS 13 320 XR は、PIDS技術(偏光散乱強度差)により更に高精度な測定と広いダイナミックレンジを搭載した今までにない粒度分布測定装置です。LS 13 320と同様に高速、高精度な測定を行えることに加え、シンプルな操作性でより効率的に運用できます。様々な進化を遂げ、より微細な違いを測定可能となりました。

特長

わずかな違いを迅速に測定

細部こそが最も重要

LS_XR.png①測定範囲の拡張:10nm ~ 3,500μm

10nm ~ 3,500μmまでの非外挿で実際に高分解能測定が可能

②PIDS技術の向上:PIDS(偏光散乱強度差)

垂直方向および水平方向の偏光散乱の検出感度を向上したことで、より高精度な生データの検出が可能になり、サブミクロン以下の小さな粒子の測定が可能で複数ピークを検出

③先進のオートモダリティ

測定前に粒度分布(複数のピークや非常に狭い分布など)が不明であっても、正しい結果を測定可能

④直観的に使用できる最適化されたソフトウエア

  • 測定開始からクリック2回で結果を取得
  • 光学的な定数データベースを統合
  • 便利なユーザー診断機能により情報提供を継続
  • 合理的な作業フローで時間を節約

使いやすいソフトウエアにより日々の作業負荷を軽減

今までにない効率的な粒度分布測定装置

直観的で使いやすいLS 13 320 XRソフトウエアは、粒度分布に関する知識をお持ちでなくても正確なデータを簡単に得ることができます。

測定開始

便利な自己診断機能でサンプリング中も情報を提供し続けます。

自動パス/フェイルコントロールによるクイック品質管理

測定したサンプルが仕様に合致しているのか、逸脱しているのか。

LS 13 320 XRソフトウェアは測定結果が要求仕様範囲内かどうかに応じて、緑色または赤色のハイライト表示を自動で行います。

これにより、経験豊富な作業者でも未経験者であっても、同じように迅速な品質管理の対応が可能となります。

ナビゲーションホイール

ワンクリックでデータのプリントアウトとエクスポート処理を実行できます。

乾式サンプルモジュールによる優れた再現性、高い分解能

トルネード方式(特許)の均一な乾式サンプリングにより、データがばらつきやすい乾式法で優れた再現性を実現できます。

  • LS 13 320 XRドライパウダーシステムモジュール

FDA 21 CFR Part 11に対応

データインテグリティとセキュリティ準拠

FDAの電子記録および電子署名の規則(21 CFR Part 11)では、電子フォームで文書を提出する際の要件が定義されています。ソフトウエアの最高レベルのセキュリティオプションを選択することにより、下記の機能を通じてシステムを21CFR Part 11に自動対応するように設定できます。

  • 電子署名
  • ユーザーの安全なログイン
  • ユーザーレベル認証
  • 監査証跡
  • 管理設定ツール

仕様

製品名 LS 13 320 XR
測定技術 低角前方光散乱とPIDS(偏光散乱強度差)技術。
3つの波長を使用し6つの異なる角度の垂直方向および水平方向の偏光を測定。
フラウンホーファー回折法およびミー散乱法を合わせて実装。
光源 回折 : レーザーダイオード(785 nm)
PIDS : 高品質バンドバスフィルター付きタングステンハロゲンランプ(475、 613、900 nm)
測定範囲 10 nm ~ 3,500 μm
インターフェース USB
消費電力 < 6 アンペア @ 90 ~ 125 VAC
温度範囲 10 ~ 40°C
相対湿度 0 ~ 90%、結露なきこと
規格

21 CFR Part 11
RoHS
認証:-EU EMC指令 2014/30/EU
   -CISPR 11:2009/A1:2010
   -オーストラリア及びニュージーランドRCMマーク

データエクスポート
ファイルフォーマット
XLSX、TSV、PDF
ファイルインポート
機能
LS 13 320 および LS 13 320 XR
ソフトウエア
オペレーティングシステム
Microsoft Windows 10
寸法 939.8(W) × 254(D) × 495.3(H) mm
重量 23.5 kg

カタログ/資料集

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