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ホーム / お知らせ一覧 / 粒度分布測定装置LS 13 320 XR新発売!

2019/01/28粒度分布測定装置LS 13 320 XR新発売!

1989年に販売を開始した初号機 レーザー回折・散乱法粒度分布測定装置 LS 130の発売以降、多くのお客様にご愛顧いただいているLSシリーズの最新モデルLS 13 320 XRを、エルエムエスでは代理店契約を締結し販売を開始しました。

LS_XR.pngのサムネイル画像

LS 13 320 XR は、PIDS技術により更に高精度な測定と広いダイナミックレンジを搭載した今までにない粒度分布測定装置です。LS 13 320と同様に高速、高精度な測定を行えることに加え、シンプルな操作性でより効率的に運用できます。様々な進化を遂げ、より微細な違いを測定可能となりました。
ナノ粒子測定に革命を起こした偏光散乱強度差(PIDS)技術の検出感度を更に向上させ、さらに10 nmを実測できるようになりました。
3,500 μmまで拡張されたダイナミックレンジにより、さらに幅広いアプリケーションに対応できます。
さらに速く、高感度に、幅広いレンジを測定でき、コンパクトになった最新機種をご検討ください。

わずかな違いを迅速に測定

細部こそが最も重要

①測定範囲の拡張:10nm ~ 3,500μm

10nm ~ 3,500μmまでの非外挿で実際に高分解能測定が可能

②PIDS技術の向上:PIDS(偏光散乱強度差)

垂直方向および水平方向の偏光散乱の検出感度を向上したことで、より高精度な生データの検出が可能になり、サブミクロン以下の小さな粒子の測定が可能で複数ピークを検出

③先進のオートモダリティ

測定前に粒度分布(複数のピークや非常に狭い分布など)が不明であっても、正しい結果を測定可能

④直観的に使用できる最適化されたソフトウエア

  • 測定開始からクリック2回で結果を取得
  • 光学的な定数データベースを統合
  • 便利なユーザー診断機能により情報提供を継続
  • 合理的な作業フローで時間を節約

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